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泰克(Tektronix)AFG31000系列任意波函数发生器

AFG31021,AFG31051,AFG31022,AFG31052,AFG31101,AFG31151,AFG31102,AFG31152,AFG31251,AFG,31252
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品牌 泰克 型号 AFG31000系列

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型号

模拟通道

输出频率

记录长度

采样率

垂直分辨率

AFG31021
1
25MHz16 MSa/通道250 MS/s
14位
AFG31051
150MHz16 MSa/通道500 MS/s14位
AFG31022
225MHz16 MSa/通道250 MS/s14位
AFG31052250MHz16 MSa/通道500 MS/s14位
AFG31101
1100MHz16 MSa/通道1 GS/s14位
AFG311511150MHz16 MSa/通道2 GS/s14位
AFG311022100MHz16 MSa/通道1 GS/s14位
AFG311522150MHz16 MSa/通道2 GS/s14位
AFG312511250MHz16 MSa/通道2 GS/s14位
AFG312522250MHz16 MSa/通道2 GS/s14位



不止需要两条通道?

如果您不止需要两条波形通道来模拟被测设备 (DUT),多台同步设置用于快速同步两台或多台设备。 通过屏幕向导信息指导您在三分钟内完成电缆连接和设置过程。

将噪声和抖动降低10倍

由于噪音本底较低且输出幅度低至1mVpp,噪音和抖动技术规格比上一代技术好10倍,可以确保测试的清晰度和保真度。


在线升级

由于架构基于软件,您可以直接从网站使用满足需求的选件升级AFG31000。

当前可用

  • 带宽升级

  • 内存大小升级

  • 波形排序升级

优异的指标

单或双通道型号;接到50Ω负载时的输出幅度范围1mVp-p至10Vp-p;基本 (AFG) 模式:25MHz、50MHz、100MHz、150MHz或250MHz正弦波形,250MSa/s、500 MSa/s、1 GSa/s或2GSa/s采样率,14位垂直分辨率,连续、调制、扫描与突发模式,各通道均具有128k点的任意波形内存;高级模式:连续模式和选配序列、触发和选通模式,各通道均具有16M点的任意波形内存(可选128M点),在包含循环、调整和等待事件的序列模式下多达256步,变量采样时钟1µSa/s至2GSa/s,最小波形长度168点,粒度为1点。



将噪声和抖动降低 10 倍

由于噪音本底较低且输出幅度低至1mVpp,噪音和抖动技术规格比上一代技术好10倍,可以确保测试的清晰度和保真度。


在线升级

由于架构基于软件,您可以直接从网站使用满足需求的选件升级 AFG31000。当前可用:带宽升级,内存大小升级,波形排序升级。

AFG31000系列说明书_ZS.pdf


验证连接DUT后输出波形

InstaView™技术用在任意波函数发生器上可直接查看连接DUT后的实时波形,无需使用示波器或其他设备,节省测试时间并避免因阻抗不匹配导致的实验错误。


一分钟内完成双脉冲测试

AFG31000是一款包括内置双脉冲测试软件的函数发生器。现在,您可以在一分钟内直接在触摸显示屏上生成两个具有可变脉冲宽度(从20ns到150µs)的波形。无需使用外部PC应用程序或手动编辑。测量开关器件参数并评估MOSFET和IGBT等功率器件的动态性能。


高保真度信号与高级模式

打开包装后,在连续模式下每通道可以生成高达16M点的精确长波形。可变采集时钟技术确保您不再丢失任何波形数据。产品功能可升级,您可以进一步提高测试水平并只需花费传统AWG十分之一的成本进行复杂波形的创建和编辑。

产品选配功能升级,您可以:

  • 将内存扩展为每通道128M点(选件MEM)

  • 多达25项输入和控制的序列/触发/选通模式(选件SEQ)用于:循环、等待、跳转、转至、外部触发输入、手动触发、定时触发和SCPI命令,以便创建时序灵活、复杂的长波形。

简化任意波形创建

内置的ARB编辑工具ArbBuilder包括创建、编辑和传输任意波形的所有操作,无需连接PC或向PC传输文件。幅度和偏置数据存储在波形中,在加载标准化ARB后,无需调整设置。


模拟电路检定

这是一个模拟世界。所有物理量均使用模拟信号捕获和表示。因此,需要检定放大器、滤波器和转换器等模拟电路的性能。

  • InstaView™ 技术避免在阻抗不匹配的DUT上增加的波形不确定性

  • 频率范围为25MHz至250MHz

  • 由于信号保真度高,无需使用外部滤波器或衰减器

  • 由于具有频率捷变特性且正弦波平坦度经过校准,频率响应测试可以轻松完成


真实场景信号复制

传感器广泛用于几乎所有现代化电子设计领域,从汽车到医疗器械再到电子消费品。 迄今为止,使用AFG捕获波形并进行复制以便排除故障或验证一直是极具挑战的过程。

  • ArbBuilder可直接导入多个泰克示波器产品系列保存的csv格式的波形

  • 高达128M 点的任意内存极大地增加了信号的长度

  • 低噪音本底使信号更为清晰


函数验证和性能检定

在产品上市前,测试工程师必须进行大量测试用例,确保产品满足技术规格。 但是,此过程比较耗时且重复。

  • 完全可编程,实现自动测试和手动测试的直观用户界面

  • 波形序列使用户在一个序列中序列化所有测试程序

  • 灵活的重复跳转方法保证高效率

  • 高达128M点的任意内存和内置非易失性闪存存储所有波形和测试程序


系统与时钟或脉冲同步

数字设计中的所有电路部分按照时钟速度同时工作。大系统中的所有设备必须与触发信号协调,以确保它们正常、可靠地工作。使用AFG31000是生成时钟和触发脉冲的有效方法。

  • 脉冲/方波频率范围高达160MHz

  • 频率捷变实现时钟不同速率的无缝切换

  • 易用的向导说明指导您完成多台设备的同步过程以便增加通道数

  • 低抖动水平,让您在触发系统时更加自信


双脉冲测试

双脉冲测试是一种用于测量开关器件参数和评估MOSFET和IGBT等功率器件动态性能的方法。双脉冲测试可测量开启参数、关闭参数和反向恢复参数。

执行此测试可:

  • 确保MOSFET和IGBT等功率器件满足产品规格书中的规格

  • 确认功率器件或电源模块的实际值或偏差

  • 在各种负载条件下测量这些开关器件的参数,并在多个设备上验证性能


高级研究和教育

研究人员和教师需要大量信号才能完成研究和教学工作。测试可以像一系列的脉冲一样简单,模拟Geiger-Muller计数器的输出,或者像一个长基带IQ一样复杂。

  • InstaView™技术避免因连接复杂负载上增加输出波型的不确定性

  • 整合多种特性与功能

  • 双工作模式均衡易用性和灵活性以便生成复杂波形

  • 内置的ArbBuilder用于在屏幕上直接生成和编辑任意波形

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