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泰克(Tektronix)AFG31000系列任意波函数发生器

采用 InstaView™ 技术的 AFG31000 系列为内置波形发生应用程序、具有实时波形监测功能并采用智能用户界面的一款高性能任意波函数发生器。AFG31021,AFG31051,AFG31022,AFG31052,AFG31101,AFG31151,AFG31102,AFG31152,AFG31251,AFG,31252
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产品功能与应用
品牌 泰克 型号 AFG31000系列

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型号

模拟通道

输出频率

记录长度

采样率

垂直分辨率

AFG31021
1
25MHz16 MSa/通道250 MS/s
14位
AFG31051
150MHz16 MSa/通道500 MS/s14位
AFG31022
225MHz16 MSa/通道250 MS/s14位
AFG31052250MHz16 MSa/通道500 MS/s14位
AFG31101
1100MHz16 MSa/通道1 GS/s14位
AFG311511150MHz16 MSa/通道2 GS/s14位
AFG311022100MHz16 MSa/通道1 GS/s14位
AFG311522150MHz16 MSa/通道2 GS/s14位
AFG312511250MHz16 MSa/通道2 GS/s14位
AFG312522250MHz16 MSa/通道2 GS/s14位



不止需要两条通道?

如果您不止需要两条波形通道来模拟被测设备 (DUT),多台同步设置用于快速同步两台或多台设备。 通过屏幕向导信息指导您在三分钟内完成电缆连接和设置过程。

将噪声和抖动降低10倍

由于噪音本底较低且输出幅度低至1mVpp,噪音和抖动技术规格比上一代技术好10倍,可以确保测试的清晰度和保真度。


在线升级

由于架构基于软件,您可以直接从网站使用满足需求的选件升级AFG31000。

当前可用

  • 带宽升级

  • 内存大小升级

  • 波形排序升级

优异的指标

单或双通道型号;接到50Ω负载时的输出幅度范围1mVp-p至10Vp-p;基本 (AFG) 模式:25MHz、50MHz、100MHz、150MHz或250MHz正弦波形,250MSa/s、500 MSa/s、1 GSa/s或2GSa/s采样率,14位垂直分辨率,连续、调制、扫描与突发模式,各通道均具有128k点的任意波形内存;高级模式:连续模式和选配序列、触发和选通模式,各通道均具有16M点的任意波形内存(可选128M点),在包含循环、调整和等待事件的序列模式下多达256步,变量采样时钟1µSa/s至2GSa/s,最小波形长度168点,粒度为1点。



将噪声和抖动降低 10 倍

由于噪音本底较低且输出幅度低至1mVpp,噪音和抖动技术规格比上一代技术好10倍,可以确保测试的清晰度和保真度。


在线升级

由于架构基于软件,您可以直接从网站使用满足需求的选件升级 AFG31000。当前可用:带宽升级,内存大小升级,波形排序升级。

AFG31000系列说明书_ZS.pdf


验证连接DUT后输出波形

InstaView™技术用在任意波函数发生器上可直接查看连接DUT后的实时波形,无需使用示波器或其他设备,节省测试时间并避免因阻抗不匹配导致的实验错误。


一分钟内完成双脉冲测试

AFG31000是一款包括内置双脉冲测试软件的函数发生器。现在,您可以在一分钟内直接在触摸显示屏上生成两个具有可变脉冲宽度(从20ns到150µs)的波形。无需使用外部PC应用程序或手动编辑。测量开关器件参数并评估MOSFET和IGBT等功率器件的动态性能。


高保真度信号与高级模式

打开包装后,在连续模式下每通道可以生成高达16M点的精确长波形。可变采集时钟技术确保您不再丢失任何波形数据。产品功能可升级,您可以进一步提高测试水平并只需花费传统AWG十分之一的成本进行复杂波形的创建和编辑。

产品选配功能升级,您可以:

  • 将内存扩展为每通道128M点(选件MEM)

  • 多达25项输入和控制的序列/触发/选通模式(选件SEQ)用于:循环、等待、跳转、转至、外部触发输入、手动触发、定时触发和SCPI命令,以便创建时序灵活、复杂的长波形。

简化任意波形创建

内置的ARB编辑工具ArbBuilder包括创建、编辑和传输任意波形的所有操作,无需连接PC或向PC传输文件。幅度和偏置数据存储在波形中,在加载标准化ARB后,无需调整设置。


模拟电路检定

这是一个模拟世界。所有物理量均使用模拟信号捕获和表示。因此,需要检定放大器、滤波器和转换器等模拟电路的性能。

  • InstaView™ 技术避免在阻抗不匹配的DUT上增加的波形不确定性

  • 频率范围为25MHz至250MHz

  • 由于信号保真度高,无需使用外部滤波器或衰减器

  • 由于具有频率捷变特性且正弦波平坦度经过校准,频率响应测试可以轻松完成


真实场景信号复制

传感器广泛用于几乎所有现代化电子设计领域,从汽车到医疗器械再到电子消费品。 迄今为止,使用AFG捕获波形并进行复制以便排除故障或验证一直是极具挑战的过程。

  • ArbBuilder可直接导入多个泰克示波器产品系列保存的csv格式的波形

  • 高达128M 点的任意内存极大地增加了信号的长度

  • 低噪音本底使信号更为清晰


函数验证和性能检定

在产品上市前,测试工程师必须进行大量测试用例,确保产品满足技术规格。 但是,此过程比较耗时且重复。

  • 完全可编程,实现自动测试和手动测试的直观用户界面

  • 波形序列使用户在一个序列中序列化所有测试程序

  • 灵活的重复跳转方法保证高效率

  • 高达128M点的任意内存和内置非易失性闪存存储所有波形和测试程序


系统与时钟或脉冲同步

数字设计中的所有电路部分按照时钟速度同时工作。大系统中的所有设备必须与触发信号协调,以确保它们正常、可靠地工作。使用AFG31000是生成时钟和触发脉冲的有效方法。

  • 脉冲/方波频率范围高达160MHz

  • 频率捷变实现时钟不同速率的无缝切换

  • 易用的向导说明指导您完成多台设备的同步过程以便增加通道数

  • 低抖动水平,让您在触发系统时更加自信


双脉冲测试

双脉冲测试是一种用于测量开关器件参数和评估MOSFET和IGBT等功率器件动态性能的方法。双脉冲测试可测量开启参数、关闭参数和反向恢复参数。

执行此测试可:

  • 确保MOSFET和IGBT等功率器件满足产品规格书中的规格

  • 确认功率器件或电源模块的实际值或偏差

  • 在各种负载条件下测量这些开关器件的参数,并在多个设备上验证性能


高级研究和教育

研究人员和教师需要大量信号才能完成研究和教学工作。测试可以像一系列的脉冲一样简单,模拟Geiger-Muller计数器的输出,或者像一个长基带IQ一样复杂。

  • InstaView™技术避免因连接复杂负载上增加输出波型的不确定性

  • 整合多种特性与功能

  • 双工作模式均衡易用性和灵活性以便生成复杂波形

  • 内置的ArbBuilder用于在屏幕上直接生成和编辑任意波形

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